1、獨有的永不間斷電接觸設計：行程超過或不足2/3其電性接觸皆能保持性低阻值，徹底消除任何因探針導致的假性開路誤叛。
2、增強耐用度：測試針設計使彈簧空間比傳統探針要大，因而可以達到更長的壽命和容納更強的彈力。
3、目標測點精準度誤差更嚴謹：測試針能達到同類型產品無法比擬的至目標測點精準度。測試針因為更加精細，通常直徑都是0.58mm以下，總長不超過6毫米，所以能夠達到同規格產品更好的精準度。冶具通用性高，只需更換顆粒限位框，即可測試尺寸不同的顆粒；采用超短進口雙頭探針設計，相比同類測試產品，可使IC和PCB之間的數據傳輸距離更短，從而保證測試結果更穩定，頻率更高，DDR3系列最高頻率可達2000MHz。
以上3點就是測試治具測試針的功效，所以它也是測試質量的重要因素，如果有需要購買測試的朋友可以聯系我們。
